Eksma 光學濾光片的應用

在使用CCD攝像機進行激光束診斷的系統(tǒng)中，可以測量激光功率，脈沖能量和脈沖持續(xù)時間，光譜學，一套用于汞燈，激光線和其他需求的帶通濾光片。

Ø在使用CCD攝像機進行激光束診斷的系統(tǒng)中

Ø測量激光功率，脈沖能量和脈沖持續(xù)時間

Ø光譜學

Ø提供一組用于汞燈，激光線和其他需求的帶通濾光片

Eksma 光學濾光片的應用

我們的標準4輪衰減器有多種濾光片可供選擇，允許車輪的256個相對位置，呈現(xiàn)99個不同的傳輸值，您可以找到與所需值非常接近的匹配值。分立的濾光片可以建立準確的光密度。

我們也可以提供帶有1，2，3和更多輪子的設計。

可變輪衰減器隨附表1中列出的一組標準，較受歡迎的濾光片。這些標準濾光片由中性灰色玻璃制成，其光譜特性符合圖3。

另外，衰減器（車輪和光學元件）可以根據(jù)單獨的訂單制造。我們還可以提供不帶濾光片的可變車輪衰減器，您可以自行安裝。

在大多數(shù)情況下，用于診斷激光輻射的檢測器（CCD，光電二極管，光電倍增管等）過于精密，無法直接測量高功率，例如離子激光器或脈沖固態(tài)激光器。可能需要衰減器以降低探測器表面的激光功率密度。當激光器的輸出功率或功率密度超過檢測器的工作（線性）范圍或損壞閾值時，須使用光衰減器。（標準草案ISO / TC172 / SC9 / WG1）

例如，典型的市售CCD的損壞閾值為約100mW / cm 2，對于高速光電探測器ARS系列（Antel Optronic Inc.）則為約200mW / cm 2。另一方面，須將激光功率調(diào)整到較佳點，該點通常剛好低于檢測器的飽和度。例如，典型的市售CCD在632.8 nm處的飽和度僅為0.05 mW /cm²，在1.06 mm處的飽和度僅為5.5 mW /cm²（參見R. Rypma的“調(diào)光……”，載于Photonics Spectra N.10，1995，145頁）。對于高功率激光器的初步衰減，較簡單的方法是僅使用未鍍膜的激光級基材的一表面反射。

在此較后階段，強度調(diào)整范圍至少應為1000：1或更大，這很有用。即使使用以一個功率電平運行的單波長激光器，在光學系統(tǒng)中不同點進行測量時也可能遇到該范圍。

在通過從未鍍膜的基材上反射而使強度大大降低之后，某些具有高光學質(zhì)量的低功率中性密度濾光片可以將光束功率提高到檢測系統(tǒng)較佳測量所需的準確水平。